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【CE認證】GSM帶內(nèi)雜散測試解析

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人氣：-發(fā)表時間：2016-10-31 10:27【大 中 小】

 

 GSM帶內(nèi)雜散測試是手機產(chǎn)品做CE認證的一個重要測試項目，這是評估一個產(chǎn)品的通話功能的重要測試項目，然而許多客戶的樣機在認證測試時，其結果經(jīng)常出現(xiàn)超標情況，于是產(chǎn)品需要進行整改，從而導致了認證周期的加長。下面微測檢測給您詳細解析一下這個測試項目的內(nèi)容。

GSM帶內(nèi)雜散測試標準CE法規(guī)《ETSI EN301511》中4.2.6章節(jié)但測試方法說明需要參考《ETSI TS 151 010-1》中13.4這項測試，此項測試目的有三：
1. Spectrum due to modulation，調制譜；
2. Spectrum due to switching transients，開關譜；
3. TX noise in RX band，帶內(nèi)雜散。
 所謂的調制譜指：數(shù)字比特流信息經(jīng)GMSK調制后在臨近頻帶上所產(chǎn)生的頻譜；開關譜指：由于功率切換而在標稱載頻的臨近頻帶上產(chǎn)生的射頻頻譜；而帶內(nèi)雜散指：EUT在發(fā)射狀態(tài)下產(chǎn)生在接收頻段上的射頻頻譜。
 在平時的客戶認證測試過程中，13.4項中調制譜和開關譜很少出現(xiàn)超標情況，如若出現(xiàn)，客戶也易于整改，一般可通過軟體校準使其回到正常值即可。相比調制譜和開關譜而言，帶內(nèi)雜散才是13.4項中的主角?？蛻魳訖C此項認證失敗往往是因為帶內(nèi)雜散超標導致。
 帶內(nèi)雜散是衡量通話質量的重要指標。早在12.1跟12.2章節(jié)，雜散測試便有標準規(guī)定，即直量測測試范圍9kHz~12.75GHz輻射發(fā)法測試范圍30MHz ~4GHz都會進行雜散掃描，但是頻帶內(nèi)的雜波信號是沒有辦法檢測到的。所以標準另辟新章單獨介紹帶內(nèi)雜散，其頻段的雜散功率限值更加嚴苛，可見帶內(nèi)雜散的重要性。
以GSM900/1800為例，帶內(nèi)雜散測試頻段為925MHz~960MHz及1805MHz~1880MHz，而其對應的功率限值如Table 1（Table 2為帶外雜散功率限值）。
 
Frequency range
Power level in dBm
GSM 900
DCS 1 800
925 MHz to 935 MHz
-67
-67
935 MHz to 960 MHz
-79
-79
1805 MHz to 1880 MHz
-71
-71 
Table 1
Frequency range
Power level in dBm
GSM 900
DCS 1 800
9 kHz to 1 GHz
-36
-36
1 GHz to 12,75 GHz
-30

1 GHz to 1 710 MHz

-30
1 710 MHz to 1 785 MHz

-36
1 785 MHz to 12,75 GHz

-30
Table 2
 由Table 1可知，935MHz~960MHz的雜散功率限值（-79 dBm）是最嚴苛的，這也造成了許多客戶樣機在該項測試時的Fail 點數(shù)成段存在。何為Fail點？在帶內(nèi)雜散測試中，EUT工作在其中間信道上，頻譜分析儀會以200KHz為一個掃描單位（點）掃完某個頻率段，檢測各掃描點的功率峰值。若該頻率點功率峰值超過對應的限值即標記為一個Fail點，一個頻率段內(nèi)允許的Fail點數(shù)為五個。如Pic.1所示，

針對該Fail的快速整改方案，一般可分為兩種：
1.降低發(fā)射功率；
很多客戶在做摸底測試時，會將樣機的發(fā)射功率適當調大以保證各項測試能順利完成。這必然影響到了各項雜散測試。而當雜散測試Fail時，降低功率便是快速整改的首選方案。當然，這是以標準允許范圍為前提。
2.PVT寬帶調節(jié)。

PVT的寬帶設置夠寬亦容易影響到臨近信道，導致接收頻段雜散過多。所以可以適當縮短PVT寬帶，一般控制在200KHz。原文轉自：摩爾實驗室  

  若上述兩種方法還不能有效改善帶內(nèi)雜散，那最后只能調試匹配了，這也是最繁雜耗時的方法了，具體整改方案需要由客戶自身的設計團隊來決定。了解更多關于CE認證的內(nèi)容，請登陸微測官網(wǎng)：m.szmymr.cn,或撥打咨詢熱線：400-666-1678，微測檢測竭誠為您服務！

  

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